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标准 |《UIS应力下GaN
HEMT
在线测试方法》发布
标准 |“GaN
HEMT
DHTOL、功率器件用硅衬底GaN
HEMT
外延片”2项标准形成征求意见稿
CSPSD 2025前瞻|上海大学任开琳:E型GaN
HEMT
和pFET的稳定性增强研究
科研成果| p-GaN栅
HEMT
器件在负栅压阻断态下的重离子辐照 可靠性实验研究
CSPSD 2025前瞻|南京大学陈敦军:p-NiO/AlGaN/GaN
HEMT
功率器件及其载流子输运与调控
CSPSD 2025前瞻| 西安电子科技大学赵胜雷:GaN
HEMT
器件击穿机理多维度分析与探讨
CSPSD 2025前瞻|工信部第五研究所施宜军:P-GaN
HEMT
栅极ESD鲁棒性及改进方法
中国科学院宁波材料技术与工程研究所郭炜研究员在GaN
HEMT
器件研究中取得新进展
CSPSD 2025前瞻|中国科学院微电子所黄森:高可靠GaN基MIS-
HEMT
功率器件与集成
标准 |“GaN
HEMT
DHTOL、功率器件用硅衬底GaN
HEMT
外延片”2项标准形成征求意见稿
国家工程研究中心最新突破:磁控溅射AlN覆盖层提升p-GaN
HEMT
器件性能
标准 | 《UIS应力下GaN
HEMT
在线测试方法》形成委员会草案
材料深一度|一篇带你了解GaN
HEMT
最全产品情况
CASA立项《
HEMT
功率器件用硅衬底氮化镓外延片》1项团体标准
武汉大学联合中科大iGaN实验室与工信部电子五所在GaN基
HEMT
s的沟道温度监测研究领域取得新进展
UIS应力下GaN
HEMT
在线测试方法征求意见
投资949亿韩元 Chemtronics将开始建设第8代OLED蚀刻工厂
中国科大微电子学院在GaN
HEMT
开关瞬态建模方向取得新进展
CASA立项GaN
HEMT
非钳位感性负载开关鲁棒性测试方法1项团体标准
标准 | 2项GaN
HEMT
动态导通电阻测试标准形成委员会草案
新微半导体“一种
HEMT
器件的栅极、
HEMT
器件及其制备方法”专利获授权
北京大学申请多沟道GaN基
HEMT
专利,降低导通电阻进而降低损耗
北京大学申请多沟道GaN基
HEMT
专利,降低导通电阻进而降低损耗
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
CSPSD 2024成都前瞻 |香港科技大学孙佳慧:肖特基型p-GaN栅GaN
HEMT
的栅极抗静电鲁棒性
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
扬杰科技申请高封装功率密度的GaN
HEMT
器件及其制备方法专利
联合攻关成果!1700V GaN
HEMT
s器件研制成功
北京大学申请高动态稳定性GaN器件专利,提高GaN
HEMT
的动态稳定性
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