精智达DRAM晶圆老化测试设备进入验证阶段

日期:2024-01-03 阅读:225
核心提示:1月2日,精智达披露最新的调研纪要称,公司半导体存储器件测试设备目前进展顺利。其中DRAM 晶圆老化测试设备,已完成技术开发和

1月2日,精智达披露最新的调研纪要称,公司半导体存储器件测试设备目前进展顺利。其中DRAM 晶圆老化测试设备,已完成技术开发和测试等工作,进入验证阶段;DRAM 测试机仍处于持续研发测试阶段。

精智达指出,半导体业务方面,公司主要是探针卡业务取得显著突破,进入批量交付阶段,整体趋势乐观。而面板业务方面,公司积极布局 MicroLED、Micro-OLED等微型显示领域,公司已持续取得Micro-LED 相关检测设备订单。微型显示领域的有关技术开发、设备验证等工作也在有序开展中。

对于公司近期对外投资的主要目的,精智达表示,本次对外投资的公司主营业务与本公司业务具有协同性,本次投资有助于快速推进公司测试设备的核心信号处理引擎芯片国产化,通过延伸产业链布局,有利于公司在 ATE 设备领域打造核心技术竞争力及安全可靠的供应链。

其进一步称,标的公司提供存储芯片测试开发服务,技术指标对标国际先进水平,设计的高性能数字混合信号测试芯片能够覆盖 DDR5 等产品,支持 9Gbps 速率传输协议。芯片的推出有助于提高芯片测试装备开发速度及测试效率。

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