品牌推荐│燊容电科与您相约CSE化合物半导体产业博览会

日期:2024-03-29 阅读:334
核心提示:燊容电子科技(上海)有限公司将亮相本届盛会,诚邀业界同仁莅临A212展台参观、交流合作。

 2024年4月8-11日,一年一度化合物半导体行业盛会——2024九峰山论坛暨中国国际化合物半导体产业博览会(简称“JFSC&CSE”)将于武汉光谷科技会展中心举办。燊容电子科技(上海)有限公司将亮相本届盛会,诚邀业界同仁莅临A212展台参观、交流合作。 

本届CSE博览会由第三代半导体产业技术创新战略联盟、九峰山实验室共同主办,以“聚势赋能 共赴未来”为主题,将汇集全球顶尖的化合物半导体制造技术专家、行业领袖和创新者,采用“示范展示+前沿论坛+技术与商贸交流”的形式,为产业链的升阶发展搭建供需精准对接平台,助力企业高效、强力拓展目标客户资源,加速驱动中国化合物半导体产业链的完善和升级。

CSE作为2024年首场国际化合物半导体产业博览会得到了多方力量的大力支持,三大主题展区,六大领域,将集中展示各链条关键环节的新技术、新产品、新服务,将打造化合物半导体领域的标杆性展会。助力打造全球化合物半导体平台、技术、产业的灯塔级盛会,集中展示化合物半导体上下游全产业链产品,搭建企业发布年度新产品新技术的首选平台,支撑产业链及中部地区建设具有全球影响力的万亿级光电子信息产业集群。

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燊容电子科技(上海)有限公司成立于2016年,当前整个电源产业正发生着深刻的变革,以 SiC(碳化硅)、GaN(氮化镓)为代表的宽禁带半导体技术已经在众多行业中得到了广泛的应用,也给电源的开发测试工作带来了众多的挑战。公司与泰克科技始终密切跟踪最新技术的进展,通过和业内领军企业的密切合作来开发针对性的测试方案。 基于其性能独特的光隔离探头以及示波器等产品,为广大电源工程师们提供卓越的完整测试解决方案:功率半导体器件静态参数测试系统、功率半导体器件动态参数测试系统、动静态综合老化测试系统。

产品介绍

泰克5 系列 B MSO 混合信号示波器、 IsoVu 光隔离探头

泰克5 系列 B MSO 混合信号示波器、 IsoVu 光隔离探头 

5 系列B MSO 具有支持手指开合、滑动和缩放操作的创新触摸屏用户界面、业内最大的高分辨率显示器以及 4、6 或 8 条 FlexChannel™ 输入通道,能够应对当前以及未来严苛的应用挑战。它为性能、分析和整体用户体验设立了新的标准。

•15.6英寸容性触摸屏

•12位垂直分辨率

•8通道FlexChannel技术

•高达 2 GHz 带宽

•高达 500 M 点记录长度

IsoVu 第二代光隔离探头,将Vgs真实呈现。推动第三代半导体发展,为电源行业带来技术革新。解决上管Vgs无法测试问题,优化驱动电压设计。

•多种带宽选择 – 200 MHz, 500 MHz, 1 GHz

•差分电压±2500v

•共模电压 60kV

•共模抑制比 160dB(100,000,000:1) 

功率半导体器件动/静态参数测试系统

静态参数测试系统 

开态测试

从fA到100A4线测试测量更低的导通电阻Rdson

关态测试

从µV到3kV,1fA电流分辨率

过压保护模块确保低功率设备安全

CV(电容 - 电压)测试

支持3KV CV测试功能

自动计算Ciss,Coss,Crss等典型参数

 

定制化系统设计,丰富的硬件配置和高灵活性的驱动电路

自动化测试软件,测试功能丰富,可以自动配置参数,测试和生成数据报告

高带宽/高分辨率测试设备,在高速开关条件下准确表征功率器件

覆盖高压、中压、低压、pmos、GaN 等不同类型,不同封装芯片测试

可以提供单脉冲、双脉冲、反向恢复、Qg、短路测试、雪崩参数、RBSOA等测试功能

 

动静态综合老化测试系统 HTXB-1000D

动静态综合老化测试系统 HTXB-1000D 

HTXB-1000D 动静态综合老化测试系统针对以 SiC/ GaN 为首的新型三代半导体功率器件,根据其特有的器件结构和失效机理,在加速老化条件下,有针对性的施加特定压力条件(包括静态压力和动态压力), 用以测试功率器件器件的漏流指标,以及其他典型特性参数(例如阈值开启电压,导通电阻等关键指标),以表征器件的老化特性和工作寿命。 

燊容电子科技(上海)有限公司

上海市宝山区长江南路180号C652 室

张总:15000372199

柏总: 18621752540

www.shr-etest.com

 

值此之际,我们诚邀业界同仁共聚本届盛会,莅临展位现场参观交流、洽谈合作。

 

关于JFSC&CSE 2024

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