2024年4月9-11日，一年一度化合物半导体行业盛会——2024九峰山论坛暨中国国际化合物半导体产业博览会（简称“JFSC＆CSE”）将于武汉光谷科技会展中心举办。科学仪器制造商JEOL将携产品亮相本届博览会，邀诚邀业界同仁莅临A214展台参观、交流合作。
本届CSE博览会由第三代半导体产业技术创新战略联盟、九峰山实验室共同主办，以“聚势赋能 共赴未来”为主题，将汇集全球顶尖的化合物半导体制造技术专家、行业领袖和创新者，以及从芯片设计、晶圆制造、封装测试、材料和设备到核心部件领域企业参展，采用“示范展示+前沿论坛+技术与商贸交流”的形式，为产业链的升阶发展搭建供需精准对接平台，助力企业高效、强力拓展目标客户资源，加速驱动中国化合物半导体产业链的完善和升级。
JEOL是世界顶级科学仪器制造商，事业范围主要有电子光学仪器、分析仪器、测试检查仪器、半导体设备、销售和研发；其中电子光学仪器主要有透射电镜、扫描电镜、电子探针、俄歇电镜、光电子能谱及其周边设备等。
产品介绍
JEM-ARM200F NEOARM
球差校正透射电子显微镜
“NEOARM”标配了日本电子独有的冷场场发射电子枪和全新的高阶球差校正器（ASCOR），在200kV到30kV的加速电压下，均能实现原子分辨率观察与分析。
JEM-F200
场发射透射电子显微镜
全新外观设计，基于球差校正电镜的全新软件界面，四级聚光镜设计，实现束斑尺寸和会聚角度的单独控制。电子枪可以提供肖特基或冷场电子枪，提供更好的亮度和能量分辨率。皮米级测角台系统，样品杆进出也可以实现自动控制，更高级的DeScan扫描系统，实现更大范围的STEM-EELS分析，可选配双能谱仪，分析的高精度和高速度完美结合，可实现STEM、EDS三维重构功能。
JEM-ACE200F
全自动解析透射电子显微镜
JEM-ACE200F全自动解析透射电子显微镜，可以通过设定好的程序，自动找到观察位置，自动获得S/TEM图像及EDS信息，极尽高效。搭载冷场发射枪和球差校正器，性能卓越。
值此之际，我们诚邀业界同仁共聚本届盛会，莅临展位现场参观交流、洽谈合作。
关于JFSC&CSE 2024
