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南科大李携曦课题组发表金刚石薄膜
制备
和应用领域研究成果
捷捷微电“一种纵向变掺杂的IGBT结构及
制备
方法”专利公布
派恩杰“一种碳化硅晶圆衬底的
制备
方法及碳化硅晶圆衬底”专利公布
华为申请碳化硅衬底
制备
方法专利,使碳化硅衬底内部应力分布均匀
广东中图半导体申请高一致性图形化衬底
制备
方法专利,解决图形化衬底均一性降低问题
港大工程学者开发革命性的钻石
制备
技术
上海瑞华晟申请SiC/SiC复合材料
制备
方法专利,提升材料抗氧化性
浙之芯申请一种氮化镓传感器及
制备
方法和装置专利,大大提高氮化镓传感器的
制备
效率
苏州立琻半导体申请p型AlGaN材料及其
制备
等专利,提高了p型AlGaN材料的空穴浓度
上海积塔半导体申请碳化硅晶体管结构及其
制备
方法专利,有效降低器件VFSD
华虹半导体申请集成半导体器件及其
制备
方法专利,提高芯片整体抗EMI能力
许福军、沈波团队成功实现垂直注入AlGaN基深紫外发光器件的晶圆级
制备
芯导电子“一种静电防护结构及
制备
方法、半导体器件及
制备
方法”专利公布
南京南瑞半导体申请沟槽型SiC器件及其
制备
方法专利,可防止器件过早击穿烧毁
长鑫存储申请半导体结构及
制备
方法专利,提高集成电路的存储密度
无锡博通申请半桥GaN增强型开关器件及其
制备
方法专利,保证器件的高速开关
镓仁半导体成功
制备
VB法(非铱坩埚)2英寸氧化镓单晶
华润微“一种LIGBT器件及其
制备
方法”专利公布
格兰菲申请功率半导体器件结构及其
制备
方法专利,有利于终端区面积缩小
科友半导体成功实现8英寸高品质碳化硅衬底的批量
制备
长宇科技取得一项外延生长基盘用高均质性特种石墨材料的
制备
方法专利,能够保持产品
制备
的稳定性
扬杰科技申请一种多导电沟道的平面栅 MOSFET 及
制备
方法专利,降低平面栅垂直导电 MOSFET 导通电阻
龙腾股份取得 SGT-MOSFET 半导体器件
制备
方法相关专利,避免出现第一氧化层过薄
芯导科技申请一种 T 型沟槽栅碳化硅 MOSFET 器件结构及其
制备
方法专利,提高了栅极可靠性
扬杰科技申请“一种提高可靠性能力的碳化硅二极管及其
制备
方法”专利,提高器件的高压 H3TRB 的可靠性
士兰微“MEMS微镜及其
制备
方法”专利获授权
扬杰科技申请一种改善双极退化的碳化硅 MOSFET 器件及
制备
方法的专利
盛合晶微半导体(江阴)申请 3D 垂直互连封装结构及其
制备
方法专利,实现高密度封装
华羿微电取得一种宽 SOA 屏蔽栅 MOSFET 器件及
制备
方法专利,提升器件整体的 SOA
中图科技申请一种高深度微结构图形化半导体衬底及其
制备
方法专利
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