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南京南瑞半导体申请沟槽型SiC器件及其制备方法
专利
,可防止器件过早击穿烧毁
安徽长飞先进半导体申请半导体器件相关
专利
,使半导体器件获得更好的散热结构以及更低的电阻率
飞锃半导体申请半导体结构及其形成方法
专利
,提高器件性能和可靠性
中微半导体设备申请双腔处理系统及气体供应方法
专利
上海汉虹申请一种单晶炉碳化硅炉专用KF40电动蝶阀
专利
长光华芯“半导体材料生长速率的测试方法”
专利
获授权
士兰微“MEMS器件及其制造方法”
专利
获授权
重庆芯联微电子申请掩膜版图形及其优化方法
专利
,解决集成电路版图工艺缺陷
粤芯半导体申请光刻机对准方法
专利
,平衡晶圆中切割道与芯片的研磨速率
长鑫存储申请半导体结构及制备方法
专利
,提高集成电路的存储密度
深圳市联微半导体取得定位装置
专利
,能够具有较低的成本
北方华创“工艺配方的管理控制方法、装置及半导体设备”
专利
公布
智芯微“用于电源监测的嵌入式系统、解码方法和解码芯片”
专利
公布
扬杰电子申请新型多级沟道SiC MOSFET元胞结构与制造方法
专利
,方法制作工艺简单
合肥晶合集成电路申请一种半导体器件的制作方法
专利
,能够提高半导体器件的性能
无锡博通申请半桥GaN增强型开关器件及其制备方法
专利
,保证器件的高速开关
山东粤海金半导体取得专用碳化硅衬底Wafer倒角装置
专利
,可实现自由设计倒角形状
汉斯半导体取得一种 IGBT 模块封装外壳抛光装置
专利
,抛光效率高
荣耀“封装芯片结构及其加工方法、和电子设备”
专利
获授权
苏州敏芯微电子申请力传感器的封装结构及其制造方法
专利
,解决现有力传感器力传递灵敏度低的问题
苏州高视半导体申请基于晶圆检测系统的晶圆检测方法
专利
,降低晶圆缺陷的检测成本
中芯国际申请光刻机焦距监控相关
专利
,实现在线焦距监控且对产品晶圆图形影响小
华海清科“驱动机构的保湿控制方法、晶圆清洗装置、存储介质”
专利
公布
北方华创“一种进气管的清洗方法及半导体工艺设备”
专利
公布
上海华虹宏力申请接触孔自对准的MOSFET制造方法
专利
广东气派科技申请 MOSFET 的封装结构
专利
,采用封装结构得到的 MOSFET 散热性能佳
华润微“一种LIGBT器件及其制备方法”
专利
公布
京东方“衬底基板、显示基板以及光探测基板”
专利
获授权
昂瑞微“一种芯片及其UserID检测电路”
专利
获授权
华虹宏力“一种嵌入式肖特基MOSFET制作方法”
专利
公布
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