东南大学教授刘斯扬:电热应力下碳化硅功率MOSFET损伤的多尺度探测表征方法

视频IFWS > IFWS20222024-04-19 16:41
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电热应力下碳化硅功率MOSFET损伤的多尺度探测表征方法Multi-scale Detection and Characterization of SiC Power MOSFET Damage under Electro-thermal Stress刘斯扬东南大学教授LIU SiyangProfessor of Southeast University
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