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北方华创“工艺配方的管理控制方法、装置及半导体设备”
专利
公布
智芯微“用于电源监测的嵌入式系统、解码方法和解码芯片”
专利
公布
扬杰电子申请新型多级沟道SiC MOSFET元胞结构与制造方法
专利
,方法制作工艺简单
合肥晶合集成电路申请一种半导体器件的制作方法
专利
,能够提高半导体器件的性能
无锡博通申请半桥GaN增强型开关器件及其制备方法
专利
,保证器件的高速开关
山东粤海金半导体取得专用碳化硅衬底Wafer倒角装置
专利
,可实现自由设计倒角形状
汉斯半导体取得一种 IGBT 模块封装外壳抛光装置
专利
,抛光效率高
荣耀“封装芯片结构及其加工方法、和电子设备”
专利
获授权
苏州敏芯微电子申请力传感器的封装结构及其制造方法
专利
,解决现有力传感器力传递灵敏度低的问题
苏州高视半导体申请基于晶圆检测系统的晶圆检测方法
专利
,降低晶圆缺陷的检测成本
中芯国际申请光刻机焦距监控相关
专利
,实现在线焦距监控且对产品晶圆图形影响小
华海清科“驱动机构的保湿控制方法、晶圆清洗装置、存储介质”
专利
公布
北方华创“一种进气管的清洗方法及半导体工艺设备”
专利
公布
上海华虹宏力申请接触孔自对准的MOSFET制造方法
专利
广东气派科技申请 MOSFET 的封装结构
专利
,采用封装结构得到的 MOSFET 散热性能佳
华润微“一种LIGBT器件及其制备方法”
专利
公布
京东方“衬底基板、显示基板以及光探测基板”
专利
获授权
昂瑞微“一种芯片及其UserID检测电路”
专利
获授权
华虹宏力“一种嵌入式肖特基MOSFET制作方法”
专利
公布
杭州镓仁半导体申请氧化镓单晶衬底抛光片划片方法
专利
,减少切割道周边晶片解理、崩裂和微裂纹等缺陷的产生
江苏集芯申请大尺寸碳化硅晶体生长坩埚及生长装置
专利
,保证晶体中心位置和外侧边缘的生长速率相一致
长电科技“腔体式封装结构及封装方法”
专利
获授权
武汉新芯取得清洗装置及半导体制造设备
专利
,去除晶圆边缘残留物避免影响后续工艺
和其光电“用于光纤传感器封装的高精密多维调节对位系统及方法”
专利
获授权
长电科技“腔体式封装结构及封装方法”
专利
获授权
中科飞测“光束整形系统”
专利
公布
格兰菲申请功率半导体器件结构及其制备方法
专利
,有利于终端区面积缩小
通富微电“半导体测试系统的控制方法及半导体测试系统”
专利
公布
厦门三安集成电路申请射频功率放大器相关
专利
忱芯科技申请碳化硅功率半导体器件的驱动板和测试方法
专利
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