《基于氮化镓金属-绝缘层-半导体高电子迁移率晶体管的单片集成DFF-NAND与DFF-NOR电路》作者：朱昱豪，崔苗，李昂，方志成，文辉清，刘雯单位：西交利物浦大学智能工程学院

德国达姆施塔特工业大学研究助理Ferdinand KEIL带来了题为加速测试条件下高品质低成本的LED电源寿命对比性研究的主题报告，介绍了一项关于高端LED驱动和低成本LED驱动的对比研究。研究采用了多种加速测试的方法确定器件的寿命，其中包括温度、湿度、偏差测试（THB）等。一些测试中重要的参数都会被记录下来。同时失效分析和失效模式都会跟实验记录做对比。比较常见的失效原因是电腐蚀，其一般常出现在低成本器件中，因为通常这些设