• 国东义大学教授Won-
    SiC单晶的坩埚结构及PVT生长工艺条件的改进SiC Single Crystals with Modification of Crucible Structure and Process Condition for PVT GrowthWon-Jae LEE韩国东义大学教授、釜山电力半导体研究所所长Won-JaeLEEProfessor of Dong-Eui University,Director of Busan Power Semiconductor Lab.
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    IFWS2025-01-09 14:55
  • 中电科第十三所高级工
    6英寸复合衬底上厚GaN外延生长研究Growth of Thick GaN Epilayers on 150mm Engineered Substrate韩颖中国电子科技集团第十三所高级工程师HAN YingSenior Engineer of Hebei Semiconductor Research Institute
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    IFWS2025-01-09 14:27
  • 西安电子科技大学
    氧化镓异质结功率晶体管Gallium Oxide Heterogeneous and Heterojunction Power Transistors韩根全西安电子科技大学教授HAN GenquanProfessor of Xidian University
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    guansheng2023-05-19 14:19
  • 【2019 杭州】明清
    浙江大学城市学院城市管理研究中心主任韩明清:美化or丑化?对城市景观照明的冷思考
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    limit2021-04-29 12:02
  • 【视频报告】国国立
    韩国国立首尔大学的Jung Eek SON教授分享了《作物生产系统中采用3D模型和光学模拟进行针对遮雨棚光投射、光合作用、光照利用率的评估》研究报告。他介绍说,在植物生产系统中,为了提高生产力和降低成本,必须提高光的利用效率,为此需要在不同的光照条件下估算冠层的光截获量。该研究以LED为光源,评估了不同生长条件下生菜的光截获、光合速率及光利用效率。采用三维扫描植物模型和射线追踪模拟方法,对莴苣的光截获率进行了估算
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    limit2020-02-03 15:42
  • 极智报告|国岭南大
    韩国岭南大学教授Ja-soon JANG 介绍了GaN基发光二极管器件可靠性特性分析方法技术报告。他表示,发光二极管(LED)技术已经迅速发展以满足LED应用领域的各种需求,如汽车照明,手术照明和IT可控智能照明。 随着LED的重要性越来越大,可靠性问题越来越重要。 他分享了最近的可靠性问题,并考虑到可以解决可靠性问题的可行方法。为此,我们从遗传个体和外部诱导的退化因素、复杂因素和触发因子等方面进行研究,新提出了影响LED可靠性行为的边界条件(芯片和封装之间)以及影响因素,以确保LED的哪些部分易受
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    limit2025-06-16 04:40
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