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标准 |《UIS应力下GaN
HEMT
在线测试方法》发布
标准 |“GaN
HEMT
DHTOL、功率器件用硅衬底GaN
HEMT
外延片”2项标准形成征求意见稿
CSPSD 2025前瞻|上海大学任开琳:E型GaN
HEMT
和pFET的稳定性增强研究
CSPSD 2025前瞻|南京大学陈敦军:p-NiO/AlGaN/GaN
HEMT
功率器件及其载流子输运与调控
CSPSD 2025前瞻| 西安电子科技大学赵胜雷:GaN
HEMT
器件击穿机理多维度分析与探讨
CSPSD 2025前瞻|工信部第五研究所施宜军:P-GaN
HEMT
栅极ESD鲁棒性及改进方法
CSPSD 2025前瞻|中国科学院微电子所黄森:高可靠GaN基MIS-
HEMT
功率器件与集成
标准 |“GaN
HEMT
DHTOL、功率器件用硅衬底GaN
HEMT
外延片”2项标准形成征求意见稿
标准 | 《UIS应力下GaN
HEMT
在线测试方法》形成委员会草案
材料深一度|一篇带你了解GaN
HEMT
最全产品情况
CASA立项《
HEMT
功率器件用硅衬底氮化镓外延片》1项团体标准
UIS应力下GaN
HEMT
在线测试方法征求意见
投资949亿韩元 Chemtronics将开始建设第8代OLED蚀刻工厂
CASA立项GaN
HEMT
非钳位感性负载开关鲁棒性测试方法1项团体标准
标准 | 2项GaN
HEMT
动态导通电阻测试标准形成委员会草案
新微半导体“一种
HEMT
器件的栅极、
HEMT
器件及其制备方法”专利获授权
北京大学申请多沟道GaN基
HEMT
专利,降低导通电阻进而降低损耗
北京大学申请多沟道GaN基
HEMT
专利,降低导通电阻进而降低损耗
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
CSPSD 2024成都前瞻 |香港科技大学孙佳慧:肖特基型p-GaN栅GaN
HEMT
的栅极抗静电鲁棒性
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
《用于零电压软开通电路的GaN
HEMT
动态导通电阻测试方法》等两项团体标准形成征求意见稿
扬杰科技申请高封装功率密度的GaN
HEMT
器件及其制备方法专利
北京大学申请高动态稳定性GaN器件专利,提高GaN
HEMT
的动态稳定性
性能位居前列! 芯生代科技发布面向
HEMT
功率器件的 850V大功率氮化镓外延产品
CASICON西安前瞻| 中国科学院半导体研究所副研究员张连:GaN功率型HBT与毫米波
HEMT
研究进展
CASA发布《分立GaN
HEMT
功率器件动态电阻评估》技术报告
东南大学牵头起草的《分立GaN
HEMT
功率器件动态电阻评估》技术报告已形成委员会草案
标准 | CASA立项《射频GaN
HEMT
结构的迁移率非接触霍尔测量方法》等5项团体标准
东南大学牵头起草的《分立GaN
HEMT
功率器件动态电阻评估》技术报告已形成委员会草案
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